日立超声波扫描仪

日立超声波扫描仪

超声波影像装置FineSAT是使用超声波非破坏获得半导体封装、电子零部件、陶瓷、金属树脂零部件等的内部孔隙、裂纹、剥离等缺陷影像的装置。X射线装置、红外线检查装置、光学显微镜检查不出来的纳米级缝隙也能检测出来。

FineSAT Ⅲ是FineSAT的第三代，在将高评价的分辨率等基本功能提升至较高水准的同时，还充实了包括高速自动测量、透射・反射同时测量、自动判断缺陷功能等各种分析软件。而且，还提高了使用便捷性（如探伤数据批量保存等），可适用于从产线中的大量检查到研究、开发等广泛用途。

特点：

开口部大，提高安全性

还标准装备防止机械、电气事故的机构，如在开口部（开口部扩大，方便样品进出）设置防止误操作的区域传感器等。

细致应对作业需要

搭载容易固定小样品的磁板、日常检查不可或缺的标准试验片等装备。除此之外，在软件方面，也针对以丰富帮助功能等为代表的增强日常操作性进行了细微的应对。

追求使用便捷性和安全性

为了更容易使用、更安全地作业，对细节进行了精心考虑，如两侧的大型窗口、LED照明、电源开关的保护盖、前面的透明板可安装拆卸等。

还有固定弯曲印刷电路板的治具、测定时防止样品背面沾水的局部浸水装置等选购件，请随时咨询。

功能：

种类丰富的探头

用于反射法时，从低频到高频，从短焦距到长焦距，适合测定对象和测定条件的探头丰富齐全，除此之外，透射法探头也一应俱全，可找到合适客户的测定对象的探头。 我们还可帮助您选定合适的探头。

＊我们还可根据您的要求，生产测定时不让测定对象物没在水下的局部浸水型探头。

进一步发展的FineSAT Ⅲ的解析软件

FineSATⅢ进一步发展了波形解析、测量、剥离判定、深度信息等解析软件。

可以实时比较±相位、绝 对强度和深度数据。另外，在波形重叠显示时，即使是不同的时间轴，也可以自动调整时间轴并保存。 另外，通过独有的像素间插值处理和自动对比度等方法，可以毫不费力地得到更易看懂的数据。

在多闸门功能方面，*多可设定64个栅场，标准配备了批量保存各闸门内数据和测定条件及在1个文件中保存图像数据的功能。

另外，还标准配备了导入所有点的波形、离线变更闸门位置、重新描绘影像的功能。如果有可进行FFT解析和差分成像处理的容量扫描功能(选购件)，追加3D查看器软件(选购件)后，可构筑更加立体的超声波影像数据，强力地支持内部的结构分析。

可同时显示反射强度和深度的配置，进行复合评价。

可实时对±相位、绝 对强度、深度、极性强调进行比较解析。

3D浏览器软件(选购件)

可通过3D恢复形状、使之可视化，使之在水平、垂直方向同时进行360°旋转，在任意视角观察，在任意位置显示截

应用范围：

检查IC封装及电子部品内部的剥离，裂痕，空隙等缺陷。

特性：

高品质(Fine)：

新开发500MHz超音波探伤仪，大富提高影像品质，高精密度扫瞄，可产生0.5um 解析度图形17500 x 7500。

快速(Fast)：

扫瞄机速度高达1000mm/sec，较传统增加67%, 搭配加大扫瞄区域，增加其单位处理量。

弹性(Flexible)：

配合各种需求可搭配各式探头(Probe)，提供更强的客製功能与使用的方便性。

产品功能：

立体倾斜式扫瞄(S-Image，日立专利)：

帮助更容易取得焦点位置。

多重影像、参数储存(Image Index，日立专利)：

所有参数可以与影像同时储存，对于类似待测物(Sample)可迅速取得影像。

自动多层扫瞄(Multi-gate Image)：

在既定的高度，可取得多达64层影像。

完整的探头(Probe)组合。